以色列研究人员开发了新技术来识别芯片中的缺陷

　　以色列北部以色列以色列技术研究所周三表示，以色列研究人员发明了一种新技术，用于识别电子和光子芯片中的纳米不均匀性。这项新技术包含在《自然纳米技术》杂志上的一份研究报告中，该技术结合了纳米光学和磁性技术。电子芯片技术，纳米力学和纳米光子学处理纳米级的组件，要求对芯片生产过程进行极其精确的质量控制。因此，超过几纳米的误差将导致芯片发生故障。当前，使用电子束显微镜在非常长且复杂的过程中测试芯片质量，其中将芯片放置在深真空室内。另一项基于光学的测试非常快速，并且不需要真空，但是由于光的波长，它不够精确。Technion集团开发的解决方案基于光和材料与磁场的相互作用的结合。研究人员在光学显微镜中操作磁场，并在显示纳米级疾病的磁化工程原子上用过滤光照明。根据Technion的说法，这一发现可能会带来新的可能性，用于测量磁场中的极小异常，以及研究量子力学和其他领域的各种波动现象。结束语